半導(dǎo)體曲線測(cè)試儀CS5100,cs3000,cs10000

更新時(shí)間：2017-10-28

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半導(dǎo)體特性曲線圖示儀 CS-3000系列 (符合 UL 規(guī)格)功能

觀察I-V曲線以及電壓和電流的應(yīng)用波形

電流和電壓脈沖在高電流模式下的應(yīng)用



應(yīng)用電流和電壓的脈沖寬度以及測(cè)量點(diǎn)額定可設(shè)定為50 - 400 μs之間（CS-3200和CS-3300）。

MOSFET“電流”和“電壓”特性測(cè)量示例

可選擇“掃描類(lèi)別”(SWEEP TYPE)

“掃描類(lèi)別”包括“下”(DOWN)、“上”(UP)和“定制”(CUSTOM)（所有模式）。
如“定制”模式，可以掃描值之間的范圍。

CS-800半導(dǎo)體參數(shù)搜索（可選）

該主控裝置軟件選項(xiàng)支持電壓和電流限制功能，以及自動(dòng)Vth測(cè)量功能。

■限制掃描(LIMIT SWEEP)
如果在“掃描”操作前了電壓和電流限值，操作會(huì)在超過(guò)限值后的下一個(gè)測(cè)量點(diǎn)停止執(zhí)行。

	■Vth和hFE設(shè)置 Vth和hFE可以自動(dòng)測(cè)量。
Vth自動(dòng)測(cè)量示例。

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